同惠电子推出TH510系列半导体器件C-V特性分析仪
同惠电子推出TH510系列半导体器件C-V特性分析仪。交流 C-V 测试可以揭示材料的氧化层厚度，晶圆工艺的界面陷阱密度，掺杂浓度，掺杂分布以及载流子寿命等，通常使用交流 C-V 测试方式来评估新工艺，材料， 器件以及电路的质量和可靠性等。比如在 MOS 结构中， C-V 测试可以方便的确定二氧化硅层厚度 dox、衬底 掺杂浓度 N、氧化层中可动电荷面密度 Q1、和固定电 荷面密度 Qfc 等参数。C-V 测试要求测试设备满足宽频率范围的需求，同时连线简单，系统易于搭建，并具备系统补偿功能，以补偿系统寄生电容引入的误差。
同惠最新推出的半导体器件C-V特性分析仪TH511突出其最优的测试特性
四个寄生参数同一界面显示
TH510只需触发一次即可完成Ciss、Coss、Crss、Rg四个参数的测试和分选，数据显示和图形分析可任意选择，无需上位机。
一体化设计
高压源+LCR+通道切换
高速测试
仪器具有快速充电功能，缩短了电容充放电时间，大大加快了测试速度。
快速导通测试Cont
快速判别被测半导体器件功能是否正常及测试引|脚接触是否良好。
高偏置电压
高达Vds偏置电压士1500V、高达Vgs偏置电压士40V
支撑多通道
高达6个通道，每个通道的测试参数独立保存，切换通道无需重新设置测量条件
自动延时功能
TH510可以根据设置的漏源电压，自动设置延时时间
进行 C-V 测量时，通常在电容两端施加直流偏压，同时利用一个交流信号进行测量。一般这类测量中使用的交流信号频率在 10KHz 到 10MHz 之间。所加载的 直流偏压用作直流电压扫描，扫描过程中测试待测器件待测器件的交流电压和电流，从而计算出不同电压下的电容值。
深圳银飞企业有售潜心研发，卓而不凡的TH510系列半导体器件C-V特性分析仪
深圳银飞企业有售潜心研发，卓而不凡的TH510系列半导体器件C-V特性分析仪
